技术趋势西门子推出Tessent In-System Test,在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试西门子数字化工业软件日前推出 Tessent In-System Test 软件,作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案,旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。 Tessent … 2024年11月12日 技术趋势 mingzhi 阅读全文